Photo-relais à faible tension d’alimentation pour le test de semi-conducteurs

Les photo-relais TLP3412SRLA de Toshiba permettent un fonctionnement à basse tension et à haute température.

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    Photo-relais à faible tension d’alimentation pour le test de semi-conducteurs

Toshiba Electronics Europe a lancé le photo-relais TLP3412SRLA capable de fonctionner avec une faible tension d'alimentation. Cette caractéristique, associée à une plage de températures de fonctionnement étendue, en fait l'outil idéal pour les applications exigeantes de test de semi-conducteurs. Les testeurs de semi-conducteurs vérifient que le dispositif testé répond aux spécifications en appliquant une tension et un courant aux broches correspondantes. Les relais traditionnels n'étant pas adaptés, il est courant d'utiliser des photo-relais en raison de leur fonctionnement à semi-conducteur et de leur taille compacte. Généralement, un FPGA est utilisé pour le contrôle mais, comme ceux-ci fonctionnent de plus en plus à 1,8V, la compatibilité peut poser problème.

 

Tension de fonctionnement (VFON) de seulement 1,6V

 

Le photo-relais TLP3412SRLA offre la tension de fonctionnement (VFON) la plus basse jamais atteinte par Toshiba, à savoir de seulement 1,6V. Cela le rend adapté à une utilisation avec des FPGA basse tension de 1,8V.

Il est courant de tester les semi-conducteurs à des températures élevées, aussi les photo-relais placés sur la carte de sonde à proximité du dispositif testé devront en conséquence fonctionner à des températures ambiantes élevées. Ce composant affiche une température de fonctionnement maximale de 125°C, ce qui garantit une marge de température adéquate au sein de l'équipement.

 

Boîtier de 1,45 mm × 2,0 mm × 1,4 mm

 

En raison de la nécessité d'atteindre des niveaux de débit élevés dans les tests de semi-conducteurs, plusieurs objets sous test sont souvent évalués en parallèle, ce qui nécessite la conception de cartes de sondes très denses. Le TLP3412SRLA est logé dans le petit boîtier S-VSON4T original de Toshiba mesurant seulement 1,45 mm × 2,0 mm × 1,4 mm.

En plus d'être parfaitement adapté aux tests de semi-conducteurs, le TLP3412SRLA convient également à une grande variété d'applications industrielles difficiles, notamment les automates programmables.

Journaliste business, technologies de l'information, usine 4.0, véhicules autonomes, santé connectée

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