Micromètres optiques optoCONTROL 2520

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Disponible en format HTML5, le système offre un affichage numérique et une visualisation des mesures et des limites sous forme de graphique temps. Il peut même être piloté à partir d'un smartphone

Mesures & Contrôles

Micromètres optiques optoCONTROL 2520
Micromètres optiques optoCONTROL 2520

Micro-Epsilon a amélioré encore le micromètre laser optoCONTROL 2520 compact avec la substitution de la programmation web Java avec HTML5.
Le contrôleur intégré se distingue par une haute précision pour une plage de mesure de 46 mm et une distance maximale de 2 m entre l'émetteur et le récepteur.

Interface web

L'unique interface web consacrée à l'utilisation et au paramétrage ne nécessite aucun programme supplémentaire et le système est disponible en format HTML5. Le capteur qui fonctionne de manière stable sur l'ensemble des appareils peut être géré à partir d'un smartphone.
Il est également possible de mesurer et de transmettre jusqu'à huit segments simultanément. L'utilisateur peut permuter l'affichage du système métrique en mm sur les unités de mesure anglo-saxonnes en pouce.

Mesure les broches et les trous

L'optoCONTROL 2520 compte et mesure les broches et les trous. Le plus petit diamètre détectable de l'objet à mesurer s'élève à 0,5 mm. La sortie des données s'effectue via les interfaces Ethernet, RS422 ou EtherCAT.
Un diagramme signal vidéo est utilisé pour un simple alignement et ajustage de la mesure.

Posté le 2 octobre 2015 - (147 affichages)
Micro-Epsilon France
14-16 Rue Des Gaudines Strategy Center
78100 St Germain En Laye - France
+33-1-39 10 21 00
+33-1-39 75 96 57
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Description

Micro-Epsilon est une PME familiale, leader dans le domaine de la métrologie. Depuis plus de 40 ans, nous proposons régulièrement des produits à la pointe de la technologie et mettons des solutions inégalées à la disposition de nos clients, en termes de mesures et d'essais de précision. Notre portefeuille englobe les capteurs pour la mesure de déplacement et de distance en passant par les systèmes de mesure dimensionnelle et de détection des défauts avec la mesure de température IR et la reconnaissance des couleurs.

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